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[发明专利]确定可疑缺陷的位置-CN202110220553.8在审
发明人： O·格林伯格;D·西格尔;D·H·杨;T·本－什洛莫 -专利权人：应用材料以色列公司
申请日： 2021-02-26 - 公布日： 2021-09-07 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：用于确定基板的可疑缺陷的位置的方法、非暂时性计算机可读介质和检测系统。
确定可疑缺陷位置

[实用新型]探伤缺陷位置指示装置-CN201520007604.9有效
发明人：山根弘士 -专利权人：上海中炼线材有限公司
申请日： 2015-01-06 - 公布日： 2015-05-20 - 主分类号： G01N33/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种探伤缺陷位置指示装置，包括探伤机和导轮，导轮的驱动端上设有用于采集转速的编码器，探伤机的探伤信号输出端与计算机的信号输入端通过信号线连接，计算机的信号输出端口与编码器的信号输入端口连接
探伤缺陷位置指示装置

[发明专利]缺陷位置修正方法-CN201480004034.6有效
发明人：田坂隆弘;饭星允规;池田佳士郎;小野田繁 -专利权人：新日铁住金株式会社
申请日： 2014-01-21 - 公布日： 2017-03-15 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：该缺陷位置修正方法具有使粘贴着导体带的检查对象物的表面产生超声波振动的工序；检测上述超声波振动的F回波及B回波的工序；基于上述F回波及上述B回波的检测值检测由上述导体带带来的伪缺陷的工序；取得上述伪缺陷的位置信息的工序；基于上述伪缺陷的位置信息取得上述伪缺陷的位置信息的差的工序；以及基于上述差将内部缺陷的位置信息修正的工序。
缺陷位置修正方法

[发明专利]确定检验样品的缺陷位置-CN202080091929.3在审
发明人： D·吉尔蒙斯基;R·本阿米;B·科恩;D·史密什 -专利权人：应用材料以色列公司
申请日： 2020-11-04 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：提供了一种方法和系统，其经配置成获取由检验工具所获得的半导体样品的一个或多个第一区域的图像；确定提供一个或多个第一区域中的缺陷性的信息的数据Datt；至少基于一个或多个第一区域中的Datt的演变或与Datt相关的数据的演变来确定怀疑存在缺陷的半导体样品的一个或多个第二区域；以及选择一个或多个第二区域以供由检验工具进行检查
确定检验样品缺陷位置

[发明专利]超声无损检测缺陷位置回溯方法-CN202011062095.1在审
发明人：李家清;石金博;郭富庆;陈晓聪;吴泽锋 -专利权人：东莞市李群自动化技术有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2021-01-08 - 主分类号： G01N29/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种超声无损检测缺陷位置回溯方法，其包括以下步骤：对工件进行超声波扫描，并对扫描轨迹路径进行位置编码，得到扫描信号数据和编码位置数据；根据扫描信号数据和编码位置数据生成图像；在图像上找出缺陷位置并选取，获取所选图像区域中心对应的编码位置；根据所选图像区域中心对应的编码位置，回溯至工件实际对应的缺陷位置处。本发明可以在无损检测的过程中先对工件进行整体扫描，整体扫描虽然耗时长，但是全程可以无专业人员参与，而当扫描完成后，再找出缺陷位置，然后根据缺陷位置对应的编码位置，在扫描后也可来到工件的缺陷位置点上，再进行标识
超声无损检测缺陷位置回溯方法

[发明专利]基于主动学习的缺陷位置标识-CN202180076672.9在审
发明人：林晨希;邹毅;T·哈桑;徐慧娜;寇人杰;N·N·穆安;K·纳菲西 -专利权人： ASML荷兰有限公司
申请日： 2021-11-02 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：公开了一种用于标识衬底上的要检查位置的方法和装置。使用与其他衬底相关联的训练数据集来训练缺陷位置预测模型，以基于与衬底相关联的过程相关数据来生成缺陷预测或无缺陷预测、和与位置中的每个位置的预测相关联的置信度得分。将位置中的由缺陷位置预测模型确定为置信度得分满足置信度阈值的那些位置添加到要由检查系统检查的位置集合。在检查该位置集合之后，获得检查结果数据，并且通过使用位置集合的检查结果数据和过程相关数据作为训练数据来以递增方式训练缺陷位置预测模型。
基于主动学习缺陷位置标识

[实用新型]一种缺陷位置标记装置-CN202020191184.5有效
发明人：董坤玲;姚毅;李刚 -专利权人：凌云光技术集团有限责任公司
申请日： 2020-02-21 - 公布日： 2020-10-20 - 主分类号： B25H7/04 文献下载
摘要：本申请提供一种缺陷位置标记装置，所述装置包括立式支撑梁(1)和横向支撑梁(2)，其中，在所述立式支撑梁(1)的底部设置有固接件(3)，所述横向支撑梁(2)通过可沿所述立式支撑梁(1)往复运动的第一滑动件
一种缺陷位置标记装置

[发明专利]基于多端交互实现电力设备的缺陷检测方法及系统-CN202311192747.7在审
发明人：杜双育;郑午;朱振航 -专利权人：佰聆数据股份有限公司
申请日： 2023-09-15 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N25/72 文献下载
摘要：本发明涉及缺陷检测领域，揭露一种基于多端交互实现电力设备的缺陷检测方法及系统，所述方法包括：分析后设备的输出数据，利用后设备的输出数据，识别电力设备的运行缺陷位置；在红外热图像提取设备区域，测量设备区域的设备温度，分析电力设备的发热缺陷位置，测量设备区域的设备温度，分析电力设备的发热缺陷位置；对电力设备进行表面缺陷检测，得到电力设备的表面缺陷位置；对历史运行数据与设备图像进行特征提取，得到运行特征与图像特征，计算电力设备的缺陷类别概率，识别缺陷类别概率对应的缺陷类别；匹配缺陷类别与运行缺陷位置、发热缺陷位置及表面缺陷位置，得到缺陷类别‑缺陷位置匹配关系。本发明可以提高电力设备的缺陷检测精细度。
基于多端交互实现电力设备缺陷检测方法系统

[发明专利]缺陷检测方法-CN201711065125.2在审
发明人：许平康;方桂芹;黄仁德 -专利权人：德淮半导体有限公司
申请日： 2017-11-02 - 公布日： 2018-03-30 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷检测方法，包括获取所述第一缺陷的第一缺陷位置；获取所述第二缺陷的第二缺陷位置；在第一拍摄位置处对第一缺陷进行拍摄处理，获取第一图像，所述第一图像中具有第一缺陷图像位置，所述第一缺陷图像位置对应于所述第一缺陷的中心；根据第一缺陷图像位置和第一偏移矢量获取第二偏移矢量；通过所述第二偏移矢量对所述第二缺陷位置进行补偿，获取第二拍摄位置，自第二缺陷位置指向所述第二拍摄位置的矢量等于所述第二偏移矢量；在所述第二拍摄位置处对所述第二缺陷进行拍摄处理所述缺陷检测方法能够增加所述第二拍摄位置的精度，从而能够使第二图像中具有所述第二缺陷的图像，进而能够提高缺陷捕捉成功率。
缺陷检测方法

[发明专利]基板缺陷位置定位方法及装置和系统-CN201610389092.6有效
发明人：张祥 -专利权人：昆山国显光电有限公司
申请日： 2016-06-02 - 公布日： 2019-09-17 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明涉及一种基板缺陷位置定位方法、装置和系统。一种基板缺陷位置定位方法，用于定位基板上的缺陷位置，缺陷具有灰阶信息，包括步骤：根据缺陷的灰阶信息，判断缺陷类型；根据缺陷类型，调节光源强度并获取视野图片；将视野图片转换为二阶化图片；根据二阶化图片确定缺陷位置一种基板缺陷位置定位装置，用于上述基板缺陷位置定位方法，包括信息处理单元、光源控制单元、目视单元以及图像处理单元。一种基板缺陷位置定位系统，包括自动光学检测设备以及上述基板缺陷位置定位装置，自动光学检测设备连接基板缺陷位置定位装置的信息处理单元。上述方法、装置和系统能够提高了缺陷定位的效率，降低了缺陷误报率。
缺陷位置定位方法装置系统

[发明专利]用于监测冲压生产线缺陷的系统和方法-CN202111244127.4在审
发明人：拉吉·索姆谢蒂;T·沙克;伊丽莎白·布拉德;弗朗西斯·马斯拉;B·舒尔茨 -专利权人：福特全球技术公司
申请日： 2021-10-25 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本公开提供了“用于监测冲压生产线缺陷的系统和方法”。一种检查冲压生产线上的冲压坯料的方法包括：识别给定冲压坯料构型的至少一个目标缺陷位置，其中独特缺陷类型与所述至少一个目标缺陷位置中的每个目标缺陷位置相关联。利用分配到所识别的目标缺陷位置中的每个目标缺陷位置的一个或多个相机，获取按照所述给定冲压坯料构型冲压的坯料上的所述至少一个所识别的目标缺陷位置中的每个目标缺陷位置的一个或多个图像。所述方法包括：分析所述至少一个所识别的目标缺陷位置中的每个目标缺陷位置的所述一个或多个图像，并且检测是否存在与所述至少一个目标缺陷位置中的每个目标缺陷位置相关联的所述独特缺陷类型。此外，每个独特缺陷类型利用对应的独特缺陷识别算法进行识别。
用于监测冲压生产线缺陷系统方法

[发明专利]一种缺陷位置的确认方法、装置、电子设备及计算机可读介质-CN202211727083.5在审
发明人：黄倩;宁宁;姜晓丽;杨洋;方婧婷 -专利权人：联合微电子中心有限责任公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷位置的确认方法，包括如下步骤：从缺陷检测仪获取第一缺陷位置，所述第一缺陷位置对应从目标晶粒上检测到的缺陷；分别获得所述目标晶粒和参考晶粒在所述第一缺陷位置处的观测图像；对比所述目标晶粒和所述参考晶粒的所述观测图像，获取第二缺陷位置；对比所述第一缺陷位置和第二缺陷位置，并判断两者的距离是否超出预设值；当超出预设值时判断观测有误，否则获取所述缺陷的缺陷图像并输出。本发明还公开了缺陷位置的确认装置、电子设备及计算机可读介质。本发明通过在原有的缺陷观测流程中加入对检测到的缺陷位置和观测到的缺陷位置进行比对的步骤，提高了缺陷位置的确认准确性，可有效防止后续判断陷阱种类的结果失真。
一种缺陷位置确认方法装置电子设备计算机可读介质

[发明专利]缺陷管理区域的位置确定方法-CN200810129614.4有效
发明人：山本义一;伊藤基志;植田宏 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2002-12-24 - 公布日： 2009-02-18 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：本发明揭示了一种用于确定信息记录媒体的缺陷管理区域位置的方法，可用于第一记录密度D1或第二记录密度D2的信息记录媒体101和102均包括：其中将记录用户数据的用户数据区域106；其中将记录第一缺陷管理信息的第一缺陷管理信息区域108，第一缺陷管理信息用于管理用户数据区域内的缺陷区域；和其中将记录第二缺陷管理信息的第二缺陷管理信息区域109，第二缺陷管理信息具有与第一缺陷管理信息相同的内容。定位第一缺陷管理信息区域108和第二缺陷管理信息区域109，以便由其起始块形成的角度θ1和θ2满足150°≤θ1≤210°和150°≤θ2≤210°的关系(θ1：在第一记录密度的情况下；和θ2：在第二记录密度的情况下
缺陷管理区域位置确定方法

[发明专利]轴承外圈缺陷角位置量化评估方法-CN201910328362.6有效
发明人：张飞斌;褚福磊;王天杨 -专利权人：清华大学
申请日： 2019-04-23 - 公布日： 2021-02-05 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种轴承外圈缺陷角位置量化评估方法。该方法首先通过外圈缺陷轴承接触载荷分布拟静态分析，定义了外圈缺陷二维融合激励值并得到了它与缺陷角位置的映射关系。然后结合外圈缺陷轴承接触载荷分布动态分析，获得了外圈缺陷激励下振动加速度响应的解析表达式。基于此，再运用数据融合思想先后构造出了两个轴承外圈缺陷角位置量化指标：二维融合峰值和二维融合均方根值。最后综合理想关系式和实测参照值，建立了二维融合均方根值与外圈缺陷角位置的实际函数关系式，用于外圈缺陷角位置的量化评估，具有重要的理论意义和应用价值。
轴承外圈缺陷位置量化评估方法

[发明专利]产品缺陷位置分布获取方法和装置-CN202011219663.4有效
发明人：师文庆;韩锦;潘正颐 -专利权人：常州微亿智造科技有限公司
申请日： 2020-11-05 - 公布日： 2021-02-23 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种产品缺陷位置分布获取方法和装置，所述方法包括以下步骤：获取产品图像并确定产品图像中缺陷位置的像素坐标；将产品图像的像素坐标范围映射到经纬度范围，以得到产品图像中缺陷位置的经纬度信息；通过Geohash算法将产品图像中缺陷位置的经纬度信息转换为相应的字符串；根据字符串获取产品图像中的缺陷位置分布。本发明能够大大提升产品缺陷位置数据处理性能，从而快速得到产品缺陷位置分布情况。
产品缺陷位置分布获取方法装置

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